顶点光电子商城2023年8月29日消息：近日，聚时科技成功出机高精度晶圆级光学缺陷检测设备，开始部署交付国内某新锐集成电路企业。

          高精度晶圆级光学缺陷检测设备是用于在半导体制造过程中对晶圆表面进行检测的设备。晶圆级光学缺陷检测在芯片制造过程中起着关键作用，因为即使微小的缺陷也可能导致芯片性能不稳定或故障。这些设备利用光学技术来扫描晶圆表面，以检测并分析可能影响芯片质量的缺陷。

           聚时科技已建立相对完整的产品矩阵，其中MatrixSemi系列高精度晶圆级光学缺陷检测量测产品，覆盖应用于前道制程、先进封装、第三代半导体化合物衬底检测等众多工艺场景。凭借创新的大规模深度学习引擎、高精度微纳光学系统、高精密传输系统和高速运动台系统、图形图像处理专用系统，打造了系列化半导体高精度检测量测设备。

          晶圆级光学缺陷检测设备在半导体制造行业中扮演着关键角色，有助于确保生产的芯片质量和稳定性。这种设备的发展和使用有助于提高半导体生产过程的自动化程度、生产效率和产品质量。未来，聚时科技将继续坚持技术创新，持续加大研发投入、立足客户实际需求，为客户提供更好的硬科技产品与高质量服务。